该公司是在上交所主板上市的公司，公司是集功率半导体器件设计研发、芯片加工、封装测试及产品营销为一体的高新技术企业，公司经科技部、中科院等国家机构认证，被列为国家博士后科研工作站、国家创新型企业、国家企业技术中心、国家知识产权示范企业、绿色工厂、CNAS国家认可实验室。该公司紧随市场发展，将积累多年的技术经验厚积薄发，技术前沿，开拓新兴领域。公司拥有4英寸、5英寸、6英寸、8英寸等多条功率半导体分立器件及IC芯片生产线。
Thetametrisis 是从希腊国家科学研究发展中心独立发展出来的高科技公司，主要技术是使用光学反射光谱分析法去精确量测单层和多层厚度以及折射率，厚度的量测范围从几纳米到微米级别。
FR-Ultra NIR N3是一款精确测量半导体以及介电材料超厚层的机器，有先进的光学器件，可以测量：
光滑或粗糙的膜层以及较厚的衬底；
应用于厚玻璃的厚度测量（厚度可达1毫米，透明或雾面）；
晶圆厚度测量（像直径达12inch的单面和双面抛光晶圆）。
此款型号的机器提供了单点测量和mapping测量模式适配不同客户的不同的需求。
