岱美中国拿到TM FR-mini膜厚仪订单

岱美中国拿到Thetametrisis 1套膜厚仪的订单。客户位于浙江，是一家研究院，拥有多个半导体设备研发技术，主要为半导体材料的研究。

FR-mini VIS/NIR膜厚测量仪采用的是波长范围在190-1100nm的紫外可见光干涉测量，能够测量1nm-100um范围的膜层厚度，准确度高达0.1%或1nm，精度为0.05nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备