近年来，随着仪器行业的不断发展，多波段椭偏仪在市场上得到了快速地发展。由于其突出的表现，受到了广泛用户的青睐。目前本产品可以适用于超薄膜，与样品非接触等，下面我们就来具体的了解一下这款仪器！在多波段椭偏仪的测量中使用不同的硬件配置，但每种配置都必须能产生已知偏振态的光束。测量由被测样品反射后光的偏振态。这要求仪器能够量化偏振态的变化量ρ。有些仪器测量ρ是通过旋转确定初始偏振光状态的偏振片。再利用第二个固定位置的偏振片来测得输出光束的偏振态。另外一些仪器是固定起偏器和检偏器，而...

接触式光刻机是一种用于信息科学与系统科学、能源科学技术、电子与通信技术领域的工艺试验仪器。主要构成：主要由对准工作台、双目分离视场CCD显微显示系统、LED曝光头、PLC电控系统、气动系统、真空管路系统、直联式真空泵、二级防震工作台和附件箱等组成。接触式光刻机的使用原理：其实在我国对于接触式光刻机，曝光时掩模压在光刻胶的衬底晶片上，其主要优点是可以使用价格较低的设备制造出较小的特征尺寸。我们也许不知道接触式光刻和深亚微米光源已经达到了小于0.1gm的特征尺寸，常用的光源分辨率...

硬化涂层膜厚仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控制的XY工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。工作原理：本产品采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。硬化涂层膜厚仪的符合...

去胶工艺是微加工过程中一个重要的过程，在电子束曝光，紫外曝光等微纳米加工工艺后，都要对光刻胶进行去除或打底膜处理。光刻胶是否去除干净对样片是否有损伤等问题，将直接影响后续工艺的顺利完成。等离子去胶性能出色的组件和软件，可对工艺参数进行精确控制。它的工艺监测和数据采集软件可实现严格的质量控制。该技术已经成功的应用于功率晶体管、模拟器件、传感器、光学器件、光电、EMS/MOEMS、生物器件、LED等领域。产品具有去胶快速*；对样片无损伤；操作简单安全；设计紧凑美观；产品性价比高等...

红外激光测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表，它常用来连续或抽样测量钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料等产品的厚度。目前国内厂家普遍采用人工测量和控制的方法来管控板材的厚度，这存在着测量精度差的、成材率低等弊端，因此采用专业的测厚仪来能有效地改善测控环境，提高生产效率、提高成材率和产品质量。目前本产品主要应用于锂电池正、负极涂布、锂电池正、负极辊压的厚度测量，以实际情况为例，使用时，可放置激光测厚仪于银压后和收卷前，在具有极片张力波动和银压机振动的复杂工况下测量设备使用浮...