此客户位于重庆，主要从事 LCOS 芯片自主研发、晶圆级封装测试，目前所处行业为国家关注的赛道半导体行业。在反射式光阀芯片领域，公司拥有一个将关键核心技术无机取向 LCOS 芯片推向量产的中国技术团队，可提供核心芯片的高性能高可靠性低成本的解决方案，解决了美日“卡脖子”问题的科技驱动型公司，真正实现了关键领域的国产化替代。
FR-ES膜厚测量仪提供出色的膜厚测量分析性能，可用于各种不同的应用，例如：薄膜厚度、折射率、颜色、透射率、反射率等等。
该机型提供三种波长范围配置: VIS/NIR (370- 1020nm, NIR-N1 (850-1050nm), NIR (900-1700nm)，能够测量12nm-100um范围的膜层厚度，准确度高达0.1%或1nm，精度为0.05nm，是一款性价比很高的膜厚测量设备。
配件包括：
滤光片 -- 可适用光刻胶
FR-Mic -- 用于微米级别区域测量
手/自动载物台 -- 100x100mm或200x200mm
薄膜/杯架 -- 用于吸收率/透射率和化学浓度测量
积分球 -- 用于漫反射和全反射
API -- 二次软件开发
接触式探头 -- ST是用于弯曲样品反射率膜厚测量的独特附件
通过不同模块的组合，最终设置可满足用户的任何需求。
