HERZ是闻名的隔振台系统方案供应商之一。在纳米技术的时代，极之微细的振动已对搜索结果造成极大的影响，必须改善测量环境，以发挥仪器的最佳效能，达到最佳成果。从高层次的研究乃至各个行业的基本生产，要想有效地发展纳米技术，消除振动尤为重要！在过去的40年里，HERZ已发展成为被动式隔振设备的主流供应商，在该领域积累了丰富经验。与此同时，测量技术有了很大进步，一些灵敏的设备会受到被动式隔振系统中低频共振频率的干扰，此类干扰唯有主动式隔振系统能够消除。因此，HERZ在被动式隔振系统产...

接下来为大家介绍ThetaMetrisis膜厚仪在氧化钇(Y2O3)涂层厚度方面的测量应用。ThetaMetrisis膜厚仪可快速准确地绘制大尺寸氧化铝陶瓷圆盘上的抗等离子涂层Y2O3厚度。1、案例介绍集成电路特征尺寸的持续缩小，对化学机械抛光后的平整度要求日益提高。氧化钇(Y2O3)是一种非常有前景的抗等离子涂层材料，可作化学机械抛光(CMP)磨料，应用十分广泛。因其优异的温度稳定性和对具有高氧亲和力的碱性熔体的出色耐受性，Y2O3被用在许多特殊材料上，例如绝缘体、玻璃、导...

FR-Scanner-AIO-Mic-XY200是一款自动薄膜厚度测绘系统，光学膜厚仪用于全自动图案化晶圆上的单层和多层涂层厚度测量。电动X-Y载物台提供适用尺寸200mmx200mm的行程，可在200-1700nm光谱范围内提供各种光学配置。FR-Scanner-AllInOne-Mic-XY200光学膜厚仪模块化厚度测绘系统平台，集成了先进的光学、电子和机械模块，用于表征图案化薄膜光学参数。典型案例包括（但不限于）微图案表面、粗糙表面等。该机型光学模块功能强大，可测量的光...

掩模对准光刻机是将二维图案转印到平坦基板上的方法。可以通过以下两种基本方法之一实现图案化：直接写入图案，或通过掩模版/印章转移图案。限定的图案可以帮助限定衬底上的特征（例如蚀刻），或者可以由沉积的图案形成特征。通过计算机辅助设计（CAD）定义图案模式。多数情况下，这些特征是使用抗蚀剂形成的，可以使用光（使用光致抗蚀剂），电子束（使用电子束抗蚀剂）或通过物理冲压（不需要抗蚀剂，也叫纳米压印）来定义图案特征。图案的特征可以被转移到另一个层蚀刻，电镀或剥离。掩模对准光刻机的技术领域...

表面粗糙度怎么检测,表面粗糙度的检测,我们常用的有以下几中方法。1.显微镜比较法,Ra0.32；将被测表面与表面粗糙度比较样块靠近在一起，用比较显微镜观察两者被放大的表面，以样块工作面上的粗糙度为标准，观察比较被测表面是否达到相应样块的表面粗糙度；从而判定被测表面粗糙度是否符合规定。此方法不能测出粗糙度参数值。2.光切显微镜测量法，Rz：0.8～100；光切显微镜(双管显微镜)是利用光切原理测量表面粗糙度的方法。从目镜观察表面粗糙度轮廓图像，用测微装置测量Rz值和Ry值。也可...