在半导体制造、光学薄膜研发及精密涂层检测等领域，薄膜厚度与光学参数的精准测量是保障产品质量与性能的关键环节。Thetametrisis薄膜厚度测量仪（如FR-Scanner系列）凭借其高度集成的光学模块设计，成为这一领域的标准设备——其光学模块不仅容纳了所有核心光学部件，更通过精密协同实现了测量精度、稳定性与功能扩展性的全面突破。一、光学模块的核心构成：全链路光学部件集成Thetametrisis薄膜厚度测量仪的光学模块是一个高度集成的“光学中枢”，内部整合了分光计、复合光源...

白光干涉仪作为精密测量领域的“光学显微镜”，凭借其纳米级分辨率和非接触式测量特性，成为半导体、光学加工、微机电系统（MEMS）等领域的核心检测工具。其核心原理基于光的干涉现象，通过解析干涉条纹的微小变化，实现表面形貌的亚纳米级重构。工作原理：光程差的精密解码白光干涉仪通过分光棱镜将光源分为两束相干光：一束照射被测样品表面，另一束投射至参考镜。两束反射光重新汇聚后产生干涉，形成明暗相间的条纹。由于白光为多色光，其干涉条纹仅在零光程差（ZOPD）附近呈现高对比度，这一特性使仪器能...

在材料科学与精密制造领域，ThetaMetrisis膜厚测量仪凭借其良好的测量精度和智能分析能力，成为薄膜厚度检测的行业标准。本文将详细解析该设备从安装到操作的全流程，揭示其精准测量的科学原理。一、系统安装与调试设备安装需选择防震台面，确保仪器水平放置。连接电源线后，通过USB或专用接口与计算机建立数据链路。初次使用时需进行环境校准：将标准样品置于样品台，通过软件界面启动自动校准程序，系统会根据反射光谱特征建立基准数据库。环境控制尤为重要，实验室温度应保持20-25℃，湿度低...

在半导体制造、光学镀膜、新能源材料等精密工业领域，薄膜厚度的精准控制直接决定产品性能。岱美仪器技术服务（上海）有限公司凭借二十余年技术积淀，构建起覆盖机械接触、光学干涉、光谱反射三大技术路径的薄膜厚度测量体系，为行业提供从实验室研发到生产线量测的全场景解决方案。1.机械接触式测量：纳米级精度的“触觉感知”针对金属镀层、硬质涂层等场景，岱美采用高精度探针式台阶仪。其核心部件为金刚石针尖探针，通过垂直位移传感器记录探针在膜层表面的微米级起伏。例如在半导体引线框架的镀金层测量中，设...

膜厚轮廓仪的多层膜结构全谱段解析技术，是当前半导体、显示及光学器件制造领域的关键突破。该技术通过单次曝光光谱分辨干涉测量法，实现了多层膜厚度与三维表面轮廓的同步实时测量，解决了传统椭偏仪逐点测量效率低、白光干涉法难以分离多层反射信号的难题。其核心原理在于将像素化偏振相机（PPC）与成像光谱仪耦合，构建了可单次获取宽光谱范围内四组相移干涉图的光学系统。光源采用400-800nm的钨卤素灯，通过柯勒照明实现均匀照度，线性偏振器与消色差四分之一波片组合调控光束偏振状态，使样本和参考...