非接触式三维形貌仪

QuickPRO-CUBE™非接触式三维形貌仪采用彩色共聚焦纳米级测量技术，全程非接触无损检测，可避免传统接触式测量对精密光学表面造成的划伤风险，适配高价值光学元件的高精度表征需求。设备搭载Invar 稳计量框架，具备优异的抗震动性与尺寸稳定性，可在普通工业环境稳定实现纳米级测量，无需严苛恒温实验室，大幅降低使用门槛与场地要求。

双传感器同步采集前表面、后表面与基准面三维点云，无需翻转样品即可完成双面全参数检测，配合高速光栅 / 螺旋扫描，单镜头测量仅需 30–240 秒，兼顾测量精度与检测效率。设备可精准输出顶点偏移、楔角、中心厚度、总厚度变化（TTV）、面形误差等核心几何参数，全面满足球面 / 非球面 / 自由曲面镜片、微透镜阵列、光通信元件、半导体光学组件的研发与质控需求。

搭配 QuickPRO™仪器控制软件与 CalcuSurf-3D™数据分析软件，可实现自动定心、一键测量、三维数据可视化、检测报表导出，操作简洁高效。广泛应用于精密光学制造、光通信、半导体、医疗光学、航空航天光学及高校科研院所，为光学元件的制程优化、品质管控、良率提升提供核心数据支撑，是光学领域三维形貌与几何精度检测的设备。