欢迎光临岱美仪器技术服务(上海)有限公司网站!
咨询热线
ARTICLE/ 技术文章
首页  >  技术文章  >  Thetametrisis膜厚仪的特点及工作原理

Thetametrisis膜厚仪的特点及工作原理

发布时间:2020-10-13浏览:142次

Thetametrisis膜厚仪FR-prtable是一款独特的USB便携式测量仪器,可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行无损(非接触式)表征。

Thetametrisis膜厚仪产品特点:


1、一键分析(无需初始化操作)动态测量。


2、测量光学参数(n&k,颜色)自动保存演示视频。


3、可测量600多种不同材料用于离线分析的多个设置免费软件更新服务。




Thetametrisis工作原理:

1、白光反射光谱(WLRS)测量方法是在一定波长范围内,分析垂直于样品表面的入射光和从单层或多层堆叠薄膜反射的反射光谱的分析方法。


2、由界面&表面产生的反射光谱被用于确定独立和附着于基底(在透明或部分/全反射基底上)的堆叠膜层的厚度、光学常数(n&k)等。