FilmSense 椭偏仪 FS-1 可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征.

美国FSM高温薄膜应力及翘曲度测量仪：美国FSM成立于1988年，总部位于圣何塞，多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备。

FSM413红外激光测厚仪主要产品包括:光学测量设备:三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析...

StrainScope Flex可调式实时应力仪 产品具有测量速度快、精度高、重复性好等特点，对大尺寸样品可拼接测量。其应力测量设备用户遍及*，用户包括肖特、卡尔-蔡司、JENOPTIK、Saint-...

实时型StrainScope S3/S4 应力仪 产品具有测量速度快、精度高、重复性好等特点，对大尺寸样品可拼接测量。其应力测量设备用户遍及*，用户包括肖特、卡尔-蔡司、JENOPTIK、Saint-...

拼接型StrainMatic stepper应力仪 产品具有测量速度快、精度高、重复性好等特点，对大尺寸样品可拼接测量。其应力测量设备用户遍及*，用户包括肖特、卡尔-蔡司、JENOPTIK、Saint...

高精度型StrainMatic M4应力仪 德国ilis公司成立于1998年，专业研发制造高精度应力双折射分析软件与测量设备，采用成像式光弹原理，直接测量光延迟，可以快速给出高分辨率的高精度测量结果。

FSM413 红外干涉厚度测量设备 主要产品包括:光学测量设备:三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金...

Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均

Filmetrics F32薄膜厚度测量仪 使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。

Filmetrics F60薄膜厚度测量仪 电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点，并在几秒钟内提供厚度测量。 选择数十种预定义的极坐标，矩形或线性地图模式中的一种，或创建自己的地图模式，不限...

Filmetrics F40薄膜厚度测量仪 产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米

Filmetrics F54薄膜厚度测量仪 产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米

Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪 仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。

F2-RT 光谱反射和透射测量系统 是美国Filmetrics新推出的物超所值同时测量反射率和透射率的仪器。

Filmetrics F10-ARc薄膜分析仪 目标光谱与多条反射光谱比较 – 自动评估反射率，*小/*大位置，并得出明确的读数结论。大 大的减少了人为造成的读数和计算误差。