光学膜厚仪是一种非接触式测量仪器，一般会运用在生产厂商大量生产产品的过程，由于误差经常会导致产品全部报废，这时候就需要运用光学膜厚仪来介入到生产环境，避免这种情况的发生。典型应用领域：半导体制造业，光刻胶、氧化物、硅或其他半导体膜层的厚度测...

折射率测量仪是指光在空气中的速度与光在该材料中的速度之比率。材料的折射率越高，使入射光发生折射的能力越强。折射率越高，镜片越薄，即镜片中心厚度相同，相同度数同种材料，折射率高的比折射率低的镜片边缘更薄。折射率测量仪的测量原理：通过测量棱镜的...

光学形貌仪采用白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，能够快速的对样品进行三维测量，具有高重复性和高分辨率的特点，可以用做尺寸比较大的样品或检测现场使用，测量度高。该仪器已被多个实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头...

翘曲度测量仪结合传统光学与新数位科技，具有强大的软件功能，可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像将其数位化，并将其储存入电脑中作各式量测、绘图再可将得之资料储存于电脑中，以便日后存档或电子邮件的发送。适用于工程开发、绘图、品质检测等用途。...

红外激光测厚仪的测量原理是两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内LPM30C激光测厚原理，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。该仪器的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。...

3D划痕仪使用了超新的划痕头和高分辨率的3D形貌仪，能够让用户进行标准的划痕测试，并在测试前后自动进行亚纳米级的3D成像。划痕试验用于评估涂层和固体表面的粘附性和耐刮擦性。测试在受控的力下对样品表面进行划擦，划痕头在递增、恒定或台阶增力的载...