椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于并不与样品接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种具吸引力的测量设备。基本原理：椭圆偏光法涉及椭圆偏振光在材料表面的反射。为表征反射光的特性，可分成两个...

纳米压印技术是上世纪90年代StephenYChou，针对传统光刻受波长限制提出的类似于模板刻印的一种技术。纳米压印机是一种非常灵活的压印设备。它可提供加热型纳米压印、UV紫外纳米压印以及真空纳米压印。模块化系统可根据特定需求轻松配置，体积...

红外激光测厚仪集激光光源，光电检测和计算机工业控制技术三者于一身，可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量，是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。作为一种非接触式厚度测量仪器，一直受到人们的热捧。因为它的测量非接触式，读数...

光学膜厚仪是一种非接触式测量仪器，一般会运用在生产厂商大量生产产品的过程，由于误差经常会导致产品全部报废，这时候就需要运用光学膜厚仪来介入到生产环境，避免这种情况的发生。典型应用领域：半导体制造业，光刻胶、氧化物、硅或其他半导体膜层的厚度测...

折射率测量仪是指光在空气中的速度与光在该材料中的速度之比率。材料的折射率越高，使入射光发生折射的能力越强。折射率越高，镜片越薄，即镜片中心厚度相同，相同度数同种材料，折射率高的比折射率低的镜片边缘更薄。折射率测量仪的测量原理：通过测量棱镜的...

光学形貌仪采用白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，能够快速的对样品进行三维测量，具有高重复性和高分辨率的特点，可以用做尺寸比较大的样品或检测现场使用，测量度高。该仪器已被多个实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头...