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怎么样进行半导体晶圆标识和测试?

发表时间:2023-01-13  |  点击率:33
  半导体晶圆(晶片)的直径为4到10英寸(10.16到25.4厘米)的圆盘,在制造过程中可承载非本征半导体。它们是正(P)型半导体或负(N)型半导体的临时形式。硅晶片是非常常见的半导体晶片,因为硅是蕞流行的半导体,这是由于其在地球上的大量供应。半导体晶圆是从锭上切片或切割薄盘的结果,它是根据需要被掺杂为P型或N型的棒状晶体。然后对它们进行刻划,以用于切割或切割单个裸片或方形子组件,这些单个裸片或正方形子组件可能仅包含一种半导体材料或多达整个电路,例如集成电路计算机处理器。

  划刻并切割用于生产电子元件(如二极管,晶体管和集成电路)的半导体晶圆,以生产小晶粒。这说明了为什么芯片具有类似图案的XY形成,这些图案由芯片承载并且实际上包含多达整个电子电路。在生产线的后期,这些管芯将安装在引线框架上,准备将小的金属线从管芯粘结到集成电路的引脚或引脚中。

 

  怎么样进行半导体晶圆标识和测试?
  在将半导体晶圆切割成子部件之前,有机会使用自动步进测试仪来测试它所携带的众多芯片,这些测试仪将测试探针顺序放置在芯片上的微观端点上,以激励,激励和读取相关的测试点。这是一种实用的方法,因为有缺陷的芯片不会被封装到蕞终的组件或集成电路中,而只会在蕞终测试时被拒绝。一旦认为模具有缺陷,墨水标记就会渗出模具,以便于视觉隔离。典型的目标是在100万个管芯中,少于6个管芯将是有缺陷的。还需要考虑其他因素,因此可以优化芯片恢复率。
  质量体系确保模具的回收率很高。晶圆边缘上的裸片经常会部分丢失。芯片上电路的实际生产需要时间和资源。为了稍微简化这种高度复杂的生产方法,不对边缘上的大多数模具进行进一步处理以节省时间和资源的总成本。