紧凑型全反射与漫反射测量工具

1.简介

FR-IntSphere-AIO是一款独立、紧凑且便携的解决方案，能够在宽光谱范围内对任意表面的反射分量进行快速、细致且精确的表征。借助FR-IntSphere-AIO，用户可以精确测量 380-1000nm 光谱范围内的全反射、漫反射和镜面反射。 FR-IntSphere-AIO将稳定的VIS/NIR光源、高品质的30mm 或50mm积分球，以及高灵敏度、高光学分辨率的光谱仪集成在一个紧凑的外壳中，无需额外模块即可实现精确的反射率测量。内置的积分球采用了高反射率的朗伯体PTFE（聚四氟乙烯）涂层，样品端口直径为 10mm，设计人性化，操作

简便。入射端口和出射端口相对于法线方向呈   8°角布置，通过光陷阱抑制样品的镜面反射，从而实现对漫反射率的测量。当用与积分球内表面相同材料制成的光泽陷阱替换光陷阱时，即可测量总反射率。

2.产品特点

3.技术规格

工作原理

反射率测量的工作原理。将样品放置在顶部，待测面朝向积分球的样品口。光谱仪和光源安装在机箱内部，并连接到相应的端口。

使用 FR-IntSphere-AIO-LC ，对高反射率 PTFE（聚四氟乙烯）、未抛光硅片（Si）以及黑色阳极氧化铝样品进行的总反射率、漫反射率和镜面反射率测量结果。