光学厚度测量仪的光学模块可容纳所有光学部件：分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。

FR-Mic 多层膜厚度测试仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，可以将光斑缩小到几个微米，进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征。

硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。

灵眸FF-55-0CT（全场扫频OCT)搭载了基千可调谐激光器技术的全场－扫频－光学相干层析技术， 解决了传统点扫描光学相干层析在大范围成像时面临的速度瓶颈， 实现对透明或半透明样品的内部缺陷进行大范围、 高速度、 高空间分辨和高灵敏度的三维成像， 获得其精细的内部三维结构信息。

灵眸SD-OCT（点扫描谱域OCT）是—款专为透明及半透明材料检测而设计的光学层析检测系统。 该系统由OCT扫描模块、 接收模块、 系统控制主机及高分辨率显示器等硬件构成， 凭借性能， 高精度、 高速度、 大范围、 高灵敏度等多重优势， 带来不一样的3D无损检测体验。

FR-ΙntShpere-AIO 是一套用于精确测量全反射、漫反射及镜面反射分量的整体解决方案。 该设备集成了稳定的 VIS/NIR 光源、反射式积分球以及具有高光学分辨率的光谱仪。通过 FR-Monitor v4.0 软件进行控制，以计算和分析所有光学参数（如反射率、颜色等）。