Thetametrisis膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控 制的XY工作台，使其快 速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。
Thetametrisis膜厚仪利用 FR-Mic，通过紫外/ 可见/ 近红外可轻易对局部区域薄膜厚度，厚度映射，光学常数，反射率，折射率及消光系数进行测量。
Thetametrisis膜厚仪使用优势：
1、实时光谱测量。
2、薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射。
3、使用集成的，USB连接高品质彩色摄像机进行成像。
4、单击即可分析 (无需初始预测)。
5、动态测量。
6、包含光学参数 (n & k, color)。
7、可保存测量演示视频录像。
8、超过 600 种不同材料o 多个离线分析配套装置o 免费操作软件升级。
