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Thetametrisis膜厚仪的优势体现在哪里

更新时间:2024-03-12  |  点击率:1069
  Thetametrisis膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控 制的XY工作台,使其快 速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。
 
  Thetametrisis膜厚仪利用 FR-Mic,通过紫外/ 可见/ 近红外可轻易对局部区域薄膜厚度,厚度映射,光学常数,反射率,折射率及消光系数进行测量。
 

 

  Thetametrisis膜厚仪使用优势:
 
  1、实时光谱测量。
 
  2、薄膜厚度,光学特性,非均匀性测量,厚度映射。
 
  3、使用集成的,USB连接高品质彩色摄像机进行成像。
 
  4、单击即可分析 (无需初始预测)。
 
  5、动态测量。
 
  6、包含光学参数 (n & k, color)。
 
  7、可保存测量演示视频录像。
 
  8、超过 600 种不同材料o 多个离线分析配套装置o 免费操作软件升级。