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怎么样进行半导体晶圆标识和测试?
2023-01-13

半导体晶圆(晶片)的直径为4到10英寸(10.16到25.4厘米)的圆盘,在制造过程中可承载非本征半导体。它们是正(P)型半导体或负(N)型半导体的临时形式。硅晶片是非常常见的半导体晶片,因为硅是蕞流行的半导体,这是由于其在地球上的大量供应...

  • 2022-10-19

    显微镜秒变光刻机!--显微镜LED曝光单元电子显微镜和光刻机,两个看上去风马牛不相及的东西,是如何结合到一起的?我们向您介绍一款无掩膜显微镜LED曝光单元UTA-3A-53M,能令显微镜秒变光刻机!该设备是一种具有高性价比的曝光装置,其DLP固定在显微镜的三目镜部分,而照相机则固定在目镜部分。可以将专用程序产生的图案投影并在显微镜下曝光在样品上。<特征>•显微镜LED曝光单元UTA系列是用于光刻的无掩模图案投影曝光设备。•使用金属显微镜和LED光源DL...

  • 2022-10-19

    FR-Scanner-AIO-Mic-XY200:微米级定位精度自动化薄膜厚度测绘系统介绍FR-Scanner-AIO-Mic-XY200是一款自动薄膜厚度测绘系统,用于全自动图案化晶圆上的单层和多层涂层厚度测量。电动X-Y载物台提供适用尺寸200mmx200mm毫米的行程,通过真空固定在载台上时进行精确测量。可依测量厚度和波长范围应用需求可在在200-1700nm光谱范围内提供各种光学配置.应用o大学&研究实验室o半导体(氧化物、氮化物、Si、抗蚀剂等)oMEMS器件(光刻...

  • 2022-10-18

    1.摘要本研究探讨了同质外延生长的4H-SiC晶片表面堆垛层错(SF)的形貌特征和起因。依据表面缺陷检测设备KLA-TencorCS920的光致发光(PL)通道和形貌通道的特点,将SF分为五类。其中I类SF在PL通道图中显示为梯形,在形貌图中不显示;II类SF在PL通道图中显示为三角形,且与I类SF重合,在形貌图中显示为胡萝卜形貌。III-V类SF在PL通道图中均显示为三角形,在形貌图中分别显示为胡萝卜、无对应图像或三角形。研究结果表明,I类SF起源于衬底的基平面位错(BPD...

  • 2022-10-14

    电容式位移传感器是一种非接触电容式原理的精密测量仪器,具有一般非接触式仪器所共有的无磨擦、无损磨特点外,还具有信噪比大,灵敏度高,零漂小,频响宽,非线性小,精度稳定性好,抗电磁干扰能力强和使用操作方便等优点。它是基于平板电容原理。电容的两极分别是传感器和与之相对的被测物体。如果有稳定交流电通过传感器,输出交流电的电压会与传感器到被测物体之间的距离成正比关系,从而可以通过测量电压的变化得到距离信息。电容式位移传感器的测量原理特性:采用电容式测量原理,需要洁净和干燥的环境,否则传...

  • 2022-09-29

    主动式防震台能够克服一般光学平台以及气浮平台低频共振,配合Herzan的隔音箱能够隔绝空气的扰动,能够给精密测量提供的振动隔离,适用于时间频率测量、原子力显微镜(AFM)、扫描隧道显微镜(STM)。它的主动防震系统是基于先进技术的,它兼备多达三个独立的主动隔振层和两个被动隔振层。这种系统架构的广泛灵活性允许KS系统在安装中获得最大的性能,特别是在典型防震系统无法使用的情况下。主动式防震台可用于抵消工作环境对灵敏度高的精密设备产生的不必要振动,提高精密设备的性能。流线型的结构设...

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