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薄膜厚度测量仪光学模块集成化的精密测量核心
2025-11-14

在半导体制造、光学薄膜研发及精密涂层检测等领域,薄膜厚度与光学参数的精准测量是保障产品质量与性能的关键环节。Thetametrisis薄膜厚度测量仪(如FR-Scanner系列)凭借其高度集成的光学模块设计,成为这一领域的标准设备——其光学...

  • 2023-02-16

    光刻技术是将二维图案转印到平坦基板上的方法。可以通过以下两种基本方法来实现图案化:直接写入图案,或通过掩模版/印章转移图案。设定的图案可以帮助生成衬底上的特征,或者可以由沉积的图案形成特征。通过计算机辅助设计(CAD)定义图案模式。多数情况下,这些特征是使用抗蚀剂形成的,可以使用光(使用光致抗蚀剂),电子束(使用电子束抗蚀剂)或通过物理压印(不需要抗蚀剂,也叫纳米压印)来定义图案特征。图案的特征可以被转移到一个基板,再进行蚀刻,电镀或剥离。1.技术领域根据所需的特征,有几种不...

  • 2023-02-15

    Microsense电容式位移传感器提供高稳定性和线性方案、高分辨率、高带宽测量方案,用于测量硬盘驱动马达,气动轴承转子,X-Y样品台准确度,光盘,汽车零部件和机床等测量。它的用途广泛:金属薄片厚度测量,振动测量,工作台垂直度和平坦度测量,精密马达转轴偏振测量,精密仪器工作平台定位,设备自动聚焦测量(微影设备、原子力显微镜、光罩探测、图像确认、LCD生产设备…)它的安装难度:它是易于安装的Microsense电容式位移传感器。MicroSense的电容式位移传感器使用单个传感...

  • 2023-02-14

    光学膜厚仪的薄膜光谱反射系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度及nk,采用r-θ极坐标移动平台,可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度,可随意选择一种或极坐标形、或方形、或线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。49点的分布图测量只需耗时约45秒。用激光粒度分布仪测试胶体的粒度分布时应配合其它检测手段验证测试结果的准确性,同时应使用去离子水作为分散介质,防止自来水中的电解质造成颗粒团聚影响...

  • 2023-02-08

    Microsense电容式位移传感器具有一般非接触式仪器所共有的非接触式特点外,还具有信噪比高,灵敏度高,零漂小,频响宽,非线性小,精度稳定性好,抗电磁干扰能力强和使用操作方便等优点。目前,Microsense电容式位移传感器在国内研究所,高等院校、工厂等部门得到广泛应用,成为科研、教学和生产中一种不能缺少的测试仪器。Microsense电容式位移传感器的分类简介:1、被动式:被动式位移传感器为一种非接触式精密位置传感器。基于追求最佳的线性和稳定性而设计,其测量带宽高达20千...

  • 2023-01-30

    晶圆键合的概述:由于光刻的延迟和功率限制的综合影响,制造商无法水平缩放,因此制造商正在垂直堆叠芯片设备,含三维集成技术。由于移动设备的激增推动了对更小电路尺寸的需求,这已变得至关重要,但这种转变并不总是那么简单。三维集成方案可以采用多种形式,具体取决于所需的互连密度。图像传感器和高密度存储器可能需要将一个芯片直接堆叠在另一个芯片上,并通过硅通孔连接,而系统级封装设计可能会将多个传感器及其控制逻辑放在一个重新分配层上。晶圆键合的业内行情:EVGroup业务发展总监ThomasU...

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