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晶圆表面与焊点质量检测,半导体制造中的精密双检技术
2025-06-27

在半导体制造中,晶圆表面缺陷与焊点质量检测是保障芯片良率与可靠性的核心环节。前者聚焦于纳米级表面完整性,后者则关乎封装结构的电学与机械稳定性。两者通过光学、声学及人工智能技术的深度融合,构建起从晶圆制造到封装测试的全流程质量防线。一、晶圆表...

  • 2022-05-19

    白光干涉仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。白光干涉仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。目前仪器可广...

  • 2022-05-12

    接近式光刻机又名:曝光系统,光刻系统等,是一种用于信息科学与系统科学、能源科学技术、电子与通信技术领域的工艺试验仪器。其工作方式是通过光的作用,将掩模版上的电路图形投影到产品表面光刻胶上,然后显影出图形,最后经过蚀刻、离子植入等制程定型形成有效的电路。工作原理:接近式光刻机通过一系列的光源能量、形状控制手段,将光束透射过画着线路图的掩模,经物镜补偿各种光学误差,将线路图成比例缩小后映射到硅片上,不同光刻机的成像比例不同,有5:1,也有4:1。然后使用化学方法显影,得到刻在硅片...

  • 2022-04-29

    光学轮廓仪是一种双LED光源的非接触式光学仪器,对样品基本上没有损害。视样品选择不同测量模式。相移干涉模式(PSI)主要用于测量光滑表面粗糙度;垂直扫描干涉模式(VSI)则可以做高度、宽度、曲率半径,粗糙度的计测等。光学轮廓仪的测试原理:白色光经分光板发射出特定波长的光。这种特定波长的光在双光束干涉物镜中,经过分光板被分成两束光,一束光照射到参照物表面,另一束光照射样品表面,这样得到的两束反射光在相机上成像。将样品表面的凹凸不平引起的光程差所获得的干涉条纹信息转换成高度信息,...

  • 2022-04-26

    翘曲度测量仪适用于手机玻璃、手机外壳、汽车玻璃、PAD平板玻璃、铝板、PCB板及各类平面类零件的平面度、平整度、翘曲度的快速测量。适用于镀膜的玻璃和非镀膜的玻璃测量;适合光伏玻璃和玻璃衬底的弯曲度、翘曲度、表面形貌和镀膜测量。翘曲度测量仪的作用:本产品适用于普通测量工具无法测量的领埔,如尺寸微小的钟表、弹簧、橡胶、矿石珠宝、半导体、五金、模具、电子行业、精细加工、不规则工件等到进行测量。还可以绘制简单的图形,绘制测量畸形、复杂和零件重叠等不规则的工件,检查零件的表面糙度和检查...

  • 2022-04-18

    红外激光测厚仪是用于板材生产线在线连续测量板材厚度的非接触式测量设备,它克服了常规测量控制方式的缺陷,具有测量准确、实用性强等优点,可有效地改善测控环境。提高生产效率、提高成材率和产品质。红外激光测厚仪的安全操作规程:1、开机:开机顺序:控制柜后面板“电源开关”→前面板“工作开”→工控机。2、打开测量软件:双击工控机桌面上的快捷方式图标,打开测量软件。3、设定或选取产品参数:根据产品规格选择或添加产品型号和参数。4、调整测量点位置:根据被测板材的规格和测量位置要求,调整测量点...

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