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薄膜厚度测量仪光学模块集成化的精密测量核心
2025-11-14

在半导体制造、光学薄膜研发及精密涂层检测等领域,薄膜厚度与光学参数的精准测量是保障产品质量与性能的关键环节。Thetametrisis薄膜厚度测量仪(如FR-Scanner系列)凭借其高度集成的光学模块设计,成为这一领域的标准设备——其光学...

  • 2025-03-26

    椭圆偏振仪作为一种重要的光学仪器,在材料科学、光通信、薄膜研究等领域发挥着关键作用。它能够精确测量薄膜的折射率、厚度等参数。然而,要想准确地对仪器的测量结果进行读数,需要遵循一系列严谨的步骤和技巧。在使用椭圆偏振仪进行测量前,准备工作至关重要。首先,要确保仪器的预热,使其达到稳定的工作状态,避免因温度变化等因素导致的测量误差。同时,要检查样品的放置是否正确,保证样品表面平整且与偏振光垂直,以确保测量结果的准确性。当仪器预热完成后,启动测量程序。在这个过程中,需要根据样品的特性...

  • 2025-03-24

    椭圆偏振仪作为现代材料表征的重要工具,通过光与物质的相互作用,为薄膜厚度和光学常数的精确测量提供了特殊的解决方案。这种非破坏性测量技术能够解析纳米级薄膜的特性,在半导体、光学镀膜和材料科学研究中发挥着关键作用。椭圆偏振测量的核心原理基于偏振光与薄膜样品相互作用后偏振状态的改变。当一束已知偏振状态的单色光以特定角度入射到样品表面时,会经历反射和折射过程。薄膜-基底系统的多层结构会改变光的振幅和相位,这种改变可以通过椭偏参数Ψ和Δ来量化描述。现代椭圆偏振仪采用旋转分析器或光弹性调...

  • 2025-03-21

    在众多对振动敏感的实验和工业应用中,主动隔振台宛如一位可靠的“守护者”,默默守护着精密设备免受外界振动的干扰,而其水平要求的好坏,更是至关重要。从减振原理来看,主动隔振台需要水平放置来确保最佳的工作效果。当外部振动源产生振动时,设备通过感知振动信号,并快速产生与外来振动反向的力,以抵消和减弱振动的影响。如果水平度不佳,就如同建在倾斜地基上的高楼,整体结构会失衡,导致系统不能准确地感知和抵消振动,从而影响隔振效果,使精密设备仍然面临受到干扰的风险。对于一些高精度的实验仪器,如电...

  • 2025-03-21

    在半导体制造的自动化产线中,晶圆水平仪是确保晶圆表面平整度、提升工艺稳定性的关键设备。它通过高精度传感器与智能算法,实时测量晶圆表面起伏,并将数据反馈至制造设备,形成闭环质量控制。晶圆水平仪的核心优势在于其动态校准能力。以WaferSense无线水平仪为例,其±0.03°的精度可支持150mm-300mm晶圆的快速校准,并适应真空或常态环境。设备内置HEPA过滤器,避免颗粒污染,同时支持蓝牙无线传输,与产线系统无缝对接,缩短工具配置时间。在自动化产线中,晶圆水平...

  • 2025-03-18

    在现代精密工程和科学研究中,主动隔振台扮演着至关重要的角色。这种高科技设备通过精密的传感器网络和先进的控制算法,为精密仪器创造了一个近乎静止的工作环境,使其能够在纳米尺度上进行精确操作和测量。主动隔振台的核心在于其特殊的反馈控制机制。系统由三个主要部分组成:高灵敏度振动传感器、实时控制单元和电磁执行器。振动传感器能够检测到从0.1Hz到数百Hz的微小振动,精度可达纳米级。这些传感器通常采用地震仪原理或激光干涉技术,能够精确捕捉来自地面、空气和建筑物结构的振动信号。控制单元是主...

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