红外测厚仪利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度，对水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度有着十分重要的意义。红外测厚仪有效地改善了工作环境，具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等优点，并为涂胶池、造纸工序厚度控制提供了准确的信息，从而提高了生产效率和产品质量，降低了劳动强度。红外测厚仪测量的注意事项:1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。2、测量时侧头与试样表面保持垂直。3、测量...

翘曲度，用于表述平面在空间中的弯曲程度，在数值上被定义为翘曲平面在高度方向上距离最远的两点间的距离。绝对平面的翘曲度为0。翘曲变形是评定产品质量的重要指标之一。对于相同翘曲影响模式的同一产品时,这些指标可以描述不同设计的翘曲变形的大小程度。但对于不同材料、模具结构等造成翘曲变形的影响模式改变的因素,不同设计下各部分的翘曲变形严重程度也随之改变。美国FSM高温薄膜应力及翘曲度测量仪具有哪些特殊功能？1、多重导向销设计，手动装载样品，有优异的重复性与再现性研究。2、优异的分辨率&...

轮廓仪是测量各种机械零件素线形状和截面轮廓形状的精密设备，具有高频率、高精度，可以对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行精确和快速测量与检验的仪器，并且环境适应性强。轮廓仪的使用说明：准备工作：1.测量前准备。2.开启电脑、打开机器电源开关、检查机器启动是否正常。3.擦净工件被测表面。测量：1.将测针正确、平稳、可靠地移动在工件被测表面上。2.工件固定确认工件不会出现松动或者其它因素导致测针与工件相撞的情况出现。3.在仪器上设置所需的测量条件。4.开始测量。测量过程中不可触摸工...

椭偏仪通过测量光在介质表面反射前后偏振态变化，获得材料的光学常数和结构信息，具有测量精度高、非接触、无破坏且不需要真空等优点。椭偏仪的选购指南：1、根据研究或测试的材料特性来确定光谱范围，进一步选择适合光源的椭偏仪。对于透明材料，考虑关心的折射率光谱区域;对于短波吸收、长波透明材料，如果关心吸收区域折射率及膜厚可扩展到红外透明区域来先确定薄膜厚度，然后求解折射率。2、入射角方式选择。椭偏仪多角度测量可以增加可靠性，但不是总有必要。多角度Z适用于以下几种场合：多层膜结构、吸收膜...

椭偏仪/椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。现在已被广泛应用于材料、物理、化学、生物、医药等领域的研究、开发和制造过程中。基本原理：椭偏仪利用偏振光测量薄膜或界面参量，通过测量被测样品反射(或透射)光线偏振状态的变化来获得样品参量。椭偏法测量具有如下特点：1.能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级。2.是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便。3.可同时测量膜的厚度...