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在柔性电子、半导体制造及新能源材料研发领域,薄膜电阻的精确测量是评估材料性能的核心指标。Delcom20J3STAGE薄膜电阻测量仪凭借其非接触式涡流技术、高精度传感器及智能化软件系统,成为行业实验室与产线的关键设备。以下从操作流程、核心功...
主动隔振台是一种高精度的机械隔振设备,它通过传感器、控制器和电磁悬浮系统来实现对振动的主动控制。它广泛应用于精密仪器、半导体制造、光学加工、医疗设备等领域中,可以有效降低外界振动对设备和产品的影响,提高其稳定性和精度。正确使用主动隔振台需要注意以下几点:1.选择合适型号:主动隔振台有多种型号和规格,用户应根据自己的需求选择合适的型号。例如,在选购它时应考虑所要隔振的频率范围、承载能力、平台尺寸等因素,以确保设备的稳定性和精度。2.安装位置:本产品需要放置在平稳的地面上,避免在...
纳米压痕仪是一种用于评估材料力学性能的仪器,它可以对材料进行微小范围内的压痕测试,测量材料在不同负载下的硬度、弹性模量和塑性行为等性能参数。该仪器通常由一个压头、一个样品台和一个激光干涉仪组成。在测试过程中,压头会施加一定的负载到样品表面上,产生微小的凹陷。此时,激光干涉仪将会检测到这个凹陷,并计算出相应的力学参数。纳米压痕仪广泛应用于材料科学领域,可以帮助研究人员了解材料在微观尺度下的性能特征,以及不同处理条件对材料性能的影响。例如,纳米压痕测试可以用于评估复合材料的界面粘...
膜厚测量仪是测量材料薄膜厚度的常用工具。其主要原理是基于物质的电磁学性质来进行测量,可以通过电磁波的反射或透射特性来得出膜层的厚度。它广泛应用于各种行业领域,包括电子、化工、钢铁、医药等,用于检测薄膜材料的厚度和均匀性,以及评估产品的质量和生产效率。常见的膜厚测量仪包括X射线荧光、介电常数计、光学膜厚仪、红外测量仪等。使用膜厚测量仪时需要注意一些事项,下面就介绍一下它的使用方法和注意事项。使用方法:1、接通电源。仪器需要接通电源才能正常工作。在接通电源之前,需要先检查电源线和...
膜厚测量仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器,其工作原理基于光学吸收和反射原理。它可以用于测量各种材料的膜厚,比如金属涂层、塑料膜、涂料、陶瓷等。下面我们来详细介绍一下膜厚测量仪的工作原理和特点。它的工作原理:膜厚测量的原理基于材料吸收和反射光线的原理,从而通过对材料所反射、透过的光线进行测量,来计算出材料的膜厚。因此,本仪器是一种利用光学技术进行测量的仪器。具体说来,膜厚测量仪通过将一束光源射到待测材料上,并测量其反射的光线强度,从而计算出该材料的膜厚。在测量过程中,本仪器会通过...
电容式位移传感器是一种非接触电容式原理的精密测量仪器,具有一般非接触式仪器所共有的无磨擦、无损磨特点外,还具有信噪比大,灵敏度高,零漂小,频响宽,非线性小,精度稳定性好,抗电磁干扰能力强和使用操作方便等优点。它是基于平板电容原理。电容的两极分别是传感器和与之相对的被测物体。如果有稳定交流电通过传感器,输出交流电的电压会与传感器到被测物体之间的距离成正比关系,从而可以通过测量电压的变化得到距离信息。电容式位移传感器的测量原理特性:采用电容式测量原理,需要洁净和干燥的环境,否则传...