硅片厚度测量仪采用的这种红外干涉技术具有*优势，诸多材料例如，Si，GaAs，InP，SiC，玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。测试原理：硅片厚度测量仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。产品特点：1、硅片厚度测量仪支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。2、配置...

自动化厚度测量仪是采用新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。自动化厚度测量仪按超声波脉冲反射原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。产品特点：1、快速编程友善的软件界面，PCB全板扫描，缩略图导航；2、*自动测量自动走位、自动对焦、自动测量锡膏厚...

薄膜厚度测量仪在市场上的发展路程已经有很多年了，从超初的推广，得到各行各业的广泛应用，从而被人们所认可。由于它本身的种种优势，可以说前景一片大好。下面我们就来详细了解一下吧！薄膜厚度测量仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。薄膜厚度测量仪结构组成：主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄...

纳米压印机是一种非常灵活的压印设备。它可提供加热型纳米压印、UV紫外纳米压印以及真空纳米压印。模块化系统可根据特定需求轻松配置，体积小，容易存放，大可处理210mm圆形的任何尺寸印章和基材。该系统是手动装卸印章和模板，但所有处理器都是全自动的，软件用户可以*控制压印过程。该工具支持多种标准光刻工艺，例如真空，软，硬和接近曝光模式，并可选择背面对准。此外，该系统还为多功能配置提供了附加功能，包括键对准和纳米压印光刻。纳米压印机提供快速的处理和重新安装工具，以改变用户需求，光刻和...

近年来，随着仪器行业的不断发展，多波段椭偏仪在市场上得到了快速地发展。由于其突出的表现，受到了广泛用户的青睐。目前本产品可以适用于超薄膜，与样品非接触等，下面我们就来具体的了解一下这款仪器！在多波段椭偏仪的测量中使用不同的硬件配置，但每种配置都必须能产生已知偏振态的光束。测量由被测样品反射后光的偏振态。这要求仪器能够量化偏振态的变化量ρ。有些仪器测量ρ是通过旋转确定初始偏振光状态的偏振片。再利用第二个固定位置的偏振片来测得输出光束的偏振态。另外一些仪器是固定起偏器和检偏器，而...