膜厚测量仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于准确度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的一大“元凶”，本文就介绍一下膜厚测量仪在不同环境下误差的产生和日常清洁保养：一、环境条件可能带来的误差：1、光栅计数尺的使用不当会对仪器造成误差；2、在工作台的移动过程中，有可能使直线角度发生偏差，从而造成测量误差；3、工作台中两个测量轴务必要保持垂直，如果有偏差就会造成测量误差；4、工作台面和显微镜光轴也要保持垂直，有偏差也...

纳米压印机应用了是一种新型的微纳加工技术。该技术通过机械转移的手段，达到了超高的分辨率，有望在未来取代传统光刻技术，成为微电子、材料领域的重要加工手段。纳米压印机优势：由于纳米压印技术的加工过程不使用可见光或紫外光加工图案，而是使用机械手段进行图案转移，这种方法能达到很高的分辨率。报道的高分辨率可达2纳米。此外，模板可以反复使用，无疑大大降低了加工成本，也有效缩短了加工时间。因此，纳米压印技术具有超高分辨率、易量产、低成本、一致性高的技术优点，被认为是一种有望代替现有光刻技术...

椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于并不与样品接触，对样品没有破坏且不需要真空。可测的材料包括：半导体、电介质、聚合物、有机物、金属、多层膜物质。可以应用于半导体、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科研、生物、医药等领域。主要功能：测量样品的偏振参量信息等，可用于在线监测，也可用于离线的样品测试；可使用不同大小的光斑探测样品。椭圆偏振仪的调整要点主要步骤：1、调整分光计；2、调共轴（注意：用校光片，先不放检偏器调，可以用白纸防在望远...

白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。仪器可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。...

3D划痕仪使用了超新的划痕头和高分辨率的3D形貌仪，能够让用户进行标准的划痕测试，并在测试前后自动进行亚纳米级的3D成像。划痕试验用于评估涂层和固体表面的粘附性和耐刮擦性。测试在受控的力下对样品表面进行划擦，划痕头在递增、恒定或台阶增力的载荷下沿着样品表面移动。通过检测摩擦力、位移和声发射等信号以及利用3D成像技术来检测涂层破损。3D划痕仪采用大速比大输出扭矩齿轮减速箱，以保证在不同测试负载下划针移动速度恒定，使测试结果具有较高的精度。本仪器目前可以做的是两种底材的试验。一种...