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  • F2-RT 光谱反射和透射测量系统

    F2-RT 光谱反射和透射测量系统是美国Filmetrics新推出的物超所值同时测量反射率和透射率的仪器。

    更新时间:2024-11-09
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:2212
  • Filmetrics F10-ARc薄膜分析仪

    Filmetrics F10-ARc薄膜分析仪 目标光谱与多条反射光谱比较 – 自动评估反射率,*小/*大位置,并得出明确的读数结论。大 大的减少了人为造成的读数和计算误差。

    更新时间:2024-11-09
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:2432
  • F50Filmetrics 自动化厚度测量仪

    Filmetrics 自动化厚度测量仪能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度,一般较短的波长 (例如, F50-UV) 可用于测量较薄的薄膜,而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

    更新时间:2024-11-09
    型号:F50
    厂商性质:代理商
    浏览量:4800
  • F10-HCFilmetrics 薄膜厚度测量仪

    Filmetrics 薄膜厚度测量仪F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件*的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。

    更新时间:2024-11-09
    型号:F10-HC
    厂商性质:代理商
    浏览量:2243
  • F20Filmetrics薄膜厚度测量仪

    不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,Filmetrics薄膜厚度测量仪F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。

    更新时间:2024-11-09
    型号:F20
    厂商性质:代理商
    浏览量:3345
  • FR-ScannerThetametrisis自动化光学膜厚仪

    Thetametrisis自动化光学膜厚仪 FR-Scanner自动化超高速薄膜厚度测量仪是一种紧凑的台式工具,适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快 速和准确测量薄膜特性:厚度,折射率,均匀性,颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。

    更新时间:2024-11-09
    型号:FR-Scanner
    厂商性质:代理商
    浏览量:2853
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