当前位置:首页 > 产品中心 > Thetametrisis膜厚仪 >
产品分类
Product Category硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。
Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。
Thetametrisis便携式光学膜厚仪FR-prtable是一款*的USB便携式测量仪器,可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行准确的无损(非接触式)表征。
显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。
FR-Ultra是一种紧凑型设备,专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。