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  • QuickOCT-4D--膜厚轮廓仪

    QuickOCT-4D™ 将单点可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器与高速纳米编码的 X/Y/Z 运动控制平台相结合,可以在高达 66 kHz 的单次测量中捕获透明薄膜样品中每层的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高达 100μm)和轴向分辨率 (5nm) 针对半导体、生命科学和制药行业的多层透明薄膜、平面基板和功能层的测量进行了优化。

    更新时间:2024-03-19
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    厂商性质:代理商
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