当前位置:首页 > 产品中心 > Thetametrisis膜厚仪 > 硬化涂层膜厚仪
产品分类
Product Category硬化涂层膜厚仪是一款快 速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。
Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。
Thetametrisis便携式光学膜厚仪FR-prtable是一款*的USB便携式测量仪器,可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行准确的无损(非接触式)表征。
FR-InLine 是一款模块化可扩展的在线薄膜厚度测量仪(膜厚仪),可进行在线非接触测量 3nm-1mm 厚度范围内的涂层。 FR-InLine 膜厚仪并可以依据各种不同应用设置多个参数的实时测量,例如:反射率和透射率光谱、厚度、色座标。 FR-InLine 膜厚仪测量软件可以在标准 Windws 10/11 中执行。
FR-ES膜厚测量仪是一款輕巧便捷膜厚测量分析系统。 使用FR-ES,用户可以在370-1020nm光谱范围内进行反射率和透射率测量。