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  • CI8化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置

    LODAS™ – CI8是列真株式会社推出的一款化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置。

    更新时间:2024-03-19
    型号:CI8
    厂商性质:代理商
    浏览量:1172
  • UltraINSP 晶圆表面缺陷检测系统

    UltraINSP晶圆表面缺陷检测系统是表面缺陷检测的蕞完善的国产化替代产品,系统包括四个模块可以检测所有晶圆表面并同步采集数据:晶圆正面、背面、边缘缺陷检测模块;轮廓、量测和检查模块;

    更新时间:2024-03-19
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:422
  • iFocus晶圆检测系统

    iFocus是一款用于晶圆外观缺陷检测设备,利用STI的2D/3D视觉检测系统,采用双2D Camera同时采集亮区和暗区照片分析特征缺陷;True 3D技术,可以精确量测Bumping高度,Bumping共面性等特征。可适用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等产品外观检测。

    更新时间:2024-03-19
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:563
  • LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷检查装置

    LODAS™ – LI系列是列真株式会社推出的一款FPD Photomask缺陷检查装置。

    更新时间:2024-03-19
    型号:LODAS™ – LI系列
    厂商性质:代理商
    浏览量:739
  • LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷检查装置

    LODAS™ – BI12是列真株式会社推出的一款GlassWafe缺陷检查装置。

    更新时间:2024-03-19
    型号:LODAS™ – BI12
    厂商性质:代理商
    浏览量:635
  • LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷检查装置

    LODAS™ – BI8是列真株式会社推出的一款Photomask Blanks缺陷检查装置。

    更新时间:2024-03-19
    型号:LODAS™ – BI8
    厂商性质:代理商
    浏览量:716
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