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    硅片厚度测量仪采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。

    更新时间：2025-01-16
    型号：Filmetrics F3-sX
    厂商性质：代理商
    浏览量：3683
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