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  • RTEC 白光干涉仪+共聚焦一体机

    该仪器具备转盘式针孔共聚焦和白光干涉两种光学测量技术,用于各种材料/涂层/器件的高精度表面三维特征 测量,能够测量从粗糙的到光滑的,坚硬的到柔软的,黏性的表面以及各种场合下难于测量的表面,适用于金属材 料、非金属材料、复合材料、薄膜、涂层、器件等各种各样材料的表面微观结构特征的3D成像,提供各种粗糙度, 表面结构的台阶高度,角度、体积、长度、深度等多种数据的测试分析、相似特征的统计分析,轮廓提取等

    更新时间:2024-03-19
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    厂商性质:代理商
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