当前位置:首页  >  产品中心  >  3D形貌仪/白光干涉轮廓仪  >  彩色共聚焦轮廓仪

  • QuickPRO-CUBE非接触式三维形貌仪

    三维形貌仪通过集成一对单点,非接触式,纳米分辨率的彩色共聚焦传感器与高速,纳米编码的X/Y/Z协调运动,QuickPRO-CUBE™捕获同步的前,后和基准表面3D点云地形,用于托盘中的单镜头或微镜头的几何表征。

    更新时间:2024-11-26
    型号:QuickPRO-CUBE
    厂商性质:代理商
    浏览量:25595
  • QuickPRO-RPS--旋转剖面仪

    专为测量旋转对称样品的表面形貌和透明薄膜的厚度而设计,如金刚石车削光学表面和模塑或抛光的非球面透镜

    更新时间:2024-11-09
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:931
  • QuickPRO-3D--表面轮廓仪

    适用于光学、工业和半导体市场的高速、中精度、经济实惠的表面轮廓仪,纳米分辨率彩色共聚焦传感器(可配制点和线传感器),为在线过程测量和控制而设计,结构紧凑,易于上下片和操作,可配制成独立系统(X/Y/Z) 和附加升级至LAS (C/R/Z),多种样品处理能力

    更新时间:2024-11-09
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:1292
  • QuickOCT-4D —膜厚轮廓仪

    QuickOCT-4D™ 将单点可见光光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 传感器与高速纳米编码的 X/Y/Z 运动控制平台相结合,可以在高达 66 kHz 的单次测量中捕获透明薄膜样品中每层的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高达 100μm)和轴向分辨率 (5nm) 针对半导体、生命科学和制药行业的多层透明薄膜、平面基板和功能层的测量进行了优化。

    更新时间:2024-11-09
    型号:
    厂商性质:代理商
    浏览量:882
共 4 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页