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  • FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统

    FR-Ultra 是一款专用于精确测量半导体以及介电材料超厚层的专用设备。 藉由先进的光学器件,FR-Ultra 可以测量光滑或粗糙的薄膜以及较厚的基材。

    更新时间:2024-03-19
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