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用于半导体芯片链路切割的激光修调技术

简要描述:microVEGA FC 系统可针对半导体行业中的多种应用执行高通量激光微加工。该系统可用于编程数字逻辑电路、修调数字电位器,或修复芯片上的半导体存储器。此外,它还能用于剔除失效的 MicroLED 像素。得益于其高度灵活的工具配置,microVEGA FC 可兼容 200 毫米和 300 毫米晶圆,从而在成本、产能、良率和工艺敏感性方面成为理想的量产解决方案。

  • 产品型号:microVEGA® FC
  • 厂商性质:代理商
  • 产品资料:
  • 更新时间:2025-12-29
  • 访  问  量: 103

详细介绍

microVEGA FC 系统可针对半导体行业中的多种应用执行高通量激光微加工。该系统可用于编程数字逻辑电路、修调数字电位器,或修复芯片上的半导体存储器。此外,它还能用于剔除失效的 MicroLED 像素。得益于其高度灵活的工具配置,microVEGA FC 可兼容 200 毫米和 300 毫米晶圆,从而在成本、产能、良率和工艺敏感性方面成为理想的量产解决方案。


亮点

高通量“飞行加工"

桥接工具功能,支持8英寸和12英寸晶圆加工

在线工艺控制与监控

加工速度可达 400 mm/s

激光光斑对芯片链路的定位精度达 ±200 nm


microVEGA® FC - 系统配置

microVEGA FC 采用微米级(个位数微米)激光光斑,在半导体晶圆表面连续移动。在此过程中,激光可选择性地加工多个芯片单元中预设的微结构。这种修调工艺能够对特定芯片进行修改,从而启用或禁用某些功能。由于芯片结构尺寸极小(约1–2 µm),要求激光光斑相对于这些结构具备超高精度的三维定位能力。为此,microVEGA FC 集成了的测量技术,以实现100%的工艺过程控制。


适用于

在晶圆级对半导体芯片功能进行修改,例如

电位器修调

数字逻辑电路编程

DRAM 存储器修复

MicroLED 修复

安全功能植入

晶圆尺寸

晶圆尺寸最大可达 300 m

精度

系统定位精度:± 200 nm ( 3 Sigma)

激光光斑直径:可在2至6 µm范围内自由调节

环境温控:21°C +/- 0.1 

激光源与光路系统

ns 激光源

标准波长:1,062 nm

可选其他波长(532 nm / 355 nm)

脉冲形状与脉宽可配置

集成测量系统

集成在线能量传感器

集成在线激光光束分析仪

原位(in-situ)摄像头

所有相关数据均保存至日志文

标准

可选 CE 或 UL 认证

激光安全等级:Class 1

洁净室等级:ISO Class 3

符合 SEMI S2/S8 标准

选配项

自动晶圆传输系统

支持 FOUP, SMIF 及开放式晶圆盒载片端口

支持手动、MGV 或 AGV 上料方式

预对准模块

RFID 读取器

支持 SECS/GEM 通信接口

晶圆  ID 识别读取器

系统尺寸·1,643 mm x 2,540 mm x 4,134 mm (宽, 高, 深)包含自动晶圆传输系统




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