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FR-Ultra是一种紧凑型设备，专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。
更新时间：2024-04-08
型号：FR-Ultra
厂商性质：代理商
浏览量：301
FR-Ultra是一种紧凑型设备，专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。
更新时间：2024-04-08型号：厂商性质：代理商浏览量：775
显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件：分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。
更新时间：2024-03-19型号：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150厂商性质：代理商浏览量：1133
硅片厚度测量仪采用的是近红外光(NIR)来测量膜层厚度，因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。
更新时间：2024-03-19型号：Filmetrics F3-sX厂商性质：代理商浏览量：1806
Filmetrics F3-sX半导体薄膜测量仪可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均
更新时间：2024-03-21型号：厂商性质：代理商浏览量：2548
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